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뉴스레터하이비젼 뉴스레터 2023년 9월호

2023-09-27


1. 대표이사 메시지

 

안녕하십니까? 하이비젼시스템 대표이사 최두원입니다.


무더웠던 여름도 지나가고, 이제 완연한 가을 날씨를 보이고 있습니다. 최근 고금리 상황의 지속 가능성이 대두되며, 글로벌 경제 상황 및 금융시장 상황이 다소 어려움을 겪고 있지만, 항상 이러한 어려움 뒤에는 또 다른 희망이 씨앗이 태동된다고 생각합니다.


가을이 추수의 계절이듯, 저희 회사 역시 3분기를 비롯한 하반기가 한 해 동안 회사와 임직원들이 합심하여 준비해 온 결과를 거두어 들이는 본격적인 시즌이기도 합니다. 글로벌 스마트폰 시장에서 카메라의 중요성이 지속적으로 부각되면서 기술 발전 속도 역시 가속화되고 있습니다. 하이비젼시스템은 선행 기술개발을 통해 기술 수요에 발 맞추어 고객의 니즈를 충족할 수 있도록 전념을 기울이고 있습니다.


또한, 돌아오는 4분기에는 충실한 내년 사업 계획을 준비하여 내년도부터는 카메라 모듈 검사 장비 중심의 기업에서 다양한 사업 포트폴리오와 아이템들을 기반으로 하는 복합 장비기업으로 발돋움하는 모습을 더욱 선명하게 보여드릴 수 있도록 추진하겠습니다.


특히, 22년에 연구개발 및 영업 단계를 거쳐, 금년 매출 발생 원년이 되는 2차전지 신사업 부분 역시 적극적인 추가 영업활동을 전개하여 향후 의미 있는 성장세를 시현할 수 있도록 만전을 기하고 있습니다.


민족의 큰 명절인 추석을 앞두고 있습니다. 귀성길 운전 조심하시고, 온 가족, 친지분들이 따뜻한 정을 나누는 풍성하고 복된 한가위 되시길 기원하겠습니다.

다음달 뉴스레터에서 또 뵙겠습니다. 감사합니다.


㈜하이비젼시스템 대표이사 최두원



2. 주요 기술 소개 – 하이비젼 반도체 AOI(Automatic Optical Inspection)

 

이번 달에는 하이비젼시스템의 검사장비 Know-how가 축적된 반도체 AOI 기술에 대해서 소개해 드리고자 합니다


AOI는 ‘Automatic Optical Inspection’의 줄임말로 자동 광학 검사를 말하며, AOI 장비는 조명, 머신비전 카메라 및 처리 소프트웨어로 구성된 두가지의 광학 모듈이 적용됩니다. 하나는 Inspection Optic Module로 이물 및 결함 유무를 검사하고, 또 다른 하나는 Review Optic Module로 검사된 결함의 진성, 가성 및 결함 유형 검증에 사용됩니다.


광학 제조 산업 중 특히 각종 반도체 Wafer 표면 검사(이물, 얼룩, 오염, 스크래치, 변색, 부식, 돌출 등)를 위해 활용되고 있는데, 그 중 CIS Wafer 검사장비는 타 Wafer 대비 검사 기준이 높아 수년간 외산 장비에 의존해 오고 있었습니다


하이비젼시스템은 AOI장비의 국산화를 위해 자체 개발한 Vision 시스템과 광학기술을 통해 CIS(CMOS Image Sensor) 를 포함한, 각종 반도체 Wafer 표면의 이물 검사 장비를 수년간의 연구 끝에 개발하게 되었습니다.


Wafer 검사에 필요한 기본적인 SW 요구 기능 (Teaching, Scan, Inspection, Review, SPC) 을 바탕으로 검사 소요시간 최소화를 위해 CPU 성능을 최대로 활용하기 위한 분산처리/병렬처리 기술 구현 및 Die 일부 영역에 다른 광량을 사용하여 모든 영역에 대한 검사를 1회만으로 가능하게 한 비주기 Scan 방식 적용 등 하이비젼시스템만의 특화된 기술을 적용하였습니다.


이러한 특화 기술을 바탕으로 더 빠르게 다양한 패턴의 결함을 검출하고 검출된 결함 종류를 분류하고 결함 위치를 더 정확하게 식별할 수 있게 되었습니다.


당사는 이러한 기술력을 바탕으로 향후 반도체 AOI장비의 국산화를 위해 지속적으로 고객사 영업활동을 전개하고 있습니다. 향후 많은 관심과 성원 부탁드리겠습니다.


< 하이비젼 내재화 Nosepiece >


< 하이비젼 비주기 Scan 방식 >




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